A.空載損耗和空載電流試驗(yàn); B.絕緣電阻和介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ測(cè)量; C.局部放電測(cè)量; D.引出線的極性檢查試驗(yàn)。
A.≥12h; B.≥24h; C.≥48h; D.≥72h。
A.整體受潮; B.整體劣化; C.小體積試品的局部缺陷; D.大體積試品的局部缺陷。