問答題

【簡答題】說明局部放電測量時(shí)的干擾來源?

答案: ①電源網(wǎng)絡(luò)的干擾;
②各類電源場輻射的干擾;
③試驗(yàn)回路接觸不良,各部位電暈及試驗(yàn)設(shè)備的內(nèi)部放電;<...
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顆粒過渡就是指過渡的熔滴直徑比焊絲直徑大時(shí)熔滴過渡形式。

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