A.應(yīng)制備幾套不同奧氏體晶粒度的奧氏體鋼鍛件對(duì)比試塊，將缺陷區(qū)衰減同試塊作合理比較
B.當(dāng)被檢鍛件同小于或等于600mm時(shí)，應(yīng)根據(jù)技術(shù)要求在適當(dāng)厚度和當(dāng)量的平底孔試塊上校正，根據(jù)實(shí)測(cè)作距離-波幅曲線
C.當(dāng)被檢鍛件厚度大于600mm 時(shí)，在鍛件無(wú)缺陷部位將底波調(diào)至滿(mǎn)刻度的80%，以此作基準(zhǔn)靈敏度
D.掃查靈敏度至少比距離-波幅曲線（定量線）提高6dB

A.對(duì)外徑為φ72mm 管子環(huán)向?qū)雍缚p進(jìn)行超聲檢測(cè)，可不用曲面對(duì)比試塊。
B.對(duì)外徑為φ72mm 管子環(huán)向?qū)雍缚p進(jìn)行超聲檢測(cè)，應(yīng)采用與管子外徑曲率相同對(duì)比試塊。
C.對(duì)外徑為φ159mm 管子環(huán)向?qū)雍缚p進(jìn)行超聲檢測(cè)，應(yīng)采用與管子外徑曲率半徑之差小于10%的對(duì)比試塊。
D.對(duì)外徑為φ159mm 管子環(huán)向?qū)雍缚p進(jìn)行超聲檢測(cè)，應(yīng)采用曲率半徑為管子曲率半徑的0.9~1.5倍的對(duì)比試塊。

A.用一種K 值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)
B.可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙值用兩種K 值探頭進(jìn)行檢測(cè)
C.用一種K 值探頭采用直射波在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)
D.可用兩種K 值探頭，在焊接接頭的雙面單側(cè)或反射波進(jìn)行檢測(cè)

A.在熒光屏滿(mǎn)刻度80%以下范圍內(nèi)，垂直線性符合儀器標(biāo)準(zhǔn)要求
B.在熒光屏滿(mǎn)刻度80%以下范圍內(nèi)，水平線性符合儀器標(biāo)準(zhǔn)要求
C.探傷儀利用試塊產(chǎn)生幅度比為2：1兩個(gè)互不干擾信號(hào)，改變?cè)鲆?，使其兩回波比值的誤差在5%范圍內(nèi)，由此得到的垂直極限范圍應(yīng)不少于熒光屏滿(mǎn)刻度的80%
D.探傷儀利用試塊產(chǎn)生幅度比為2：1兩個(gè)互不干擾信號(hào)，改變?cè)鲆?，使兩回波從熒光屏滿(mǎn)刻度80%降至回波高度為滿(mǎn)刻度5%范圍內(nèi)的垂直線性符合標(biāo)準(zhǔn)要求

A.對(duì)缺陷清除后的表面和補(bǔ)焊后表面進(jìn)行表面檢測(cè)
B.對(duì)補(bǔ)焊焊肉內(nèi)部采用直探頭或雙晶直探頭，按焊縫要求檢測(cè)
C.對(duì)補(bǔ)焊焊肉內(nèi)部采用直探頭或雙晶直探頭，按鍛件要求檢測(cè)
D.對(duì)有熱處理要求的鍛件，則檢測(cè)應(yīng)在補(bǔ)焊后重新熱處理后進(jìn)行