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判斷題

缺陷所反射的回波大小只取決于缺陷大小。

答案：錯(cuò)誤

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斜探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度是按晶片在投影后的有效面積計(jì)算。

答案：正確

從各個(gè)方向都能探測(cè)到的缺陷是平面狀缺陷。

答案：錯(cuò)誤

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