采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

焊縫探傷中斜探頭K值的選擇原則是（）。

通用儀器對焊補層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對靈敏度，以最大回波顯示的刻度來確定（）。

在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。

探傷中遇鋼軌焊補時，執(zhí)機(jī)人員必須“站?？床ā痹诒３炙砍渥愕那闆r下，探傷靈敏度應(yīng)提高（）。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

鋼軌魚鱗地段探測中應(yīng)注意（）。

垂直法探傷時，對要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。

剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。