A.動(dòng)撓度-----加速度傳感器
B.變形-----應(yīng)變計(jì)
C.結(jié)構(gòu)沉降-----靜力水準(zhǔn)儀
D.溫濕度-----溫濕度傳感器
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A.B/S架構(gòu)中數(shù)據(jù)邏輯處理機(jī)能主要在服務(wù)器端實(shí)施
B.C/S中數(shù)據(jù)邏輯處理機(jī)能主要在服務(wù)器端實(shí)施
C.B/S架構(gòu)對(duì)終端的性能、式樣要求低
D.C/S架構(gòu)架構(gòu)對(duì)終端的性能、式樣要求低
A.GPS是唯一的全球定位系統(tǒng),英文名稱為Global Processing System
B.GPS測(cè)試的基本原理在于測(cè)量出已知位置的衛(wèi)星到用戶接收機(jī)之間的距離
C.GPS定位時(shí),至少需要同時(shí)接收2顆衛(wèi)星的信號(hào)
D.上述說(shuō)法均不對(duì)
A.使用電橋,可以對(duì)電阻應(yīng)變片電阻的微小變化加以放大,并體現(xiàn)在輸出電壓的變化
B.最簡(jiǎn)單的電橋?yàn)閱伪蹨y(cè)量電橋,有一個(gè)支路
C.橋式電路通常需要溫度補(bǔ)償,以便消除由于溫度變化而引起的電流噪聲
D.上述說(shuō)法均不對(duì)
A.測(cè)量物體的應(yīng)力不能用電阻應(yīng)變片,只有測(cè)量應(yīng)變時(shí)可用
B.當(dāng)金屬應(yīng)變片拉伸時(shí),電阻會(huì)變大
C.當(dāng)半導(dǎo)體應(yīng)變片拉伸時(shí),電阻會(huì)變小
D.上述說(shuō)法均不對(duì)
A.鋼絞線的部分銹蝕,不影響二次張拉法的測(cè)試
B.個(gè)別夾片脫落,不影響二次張拉法的測(cè)試
C.個(gè)別鋼絞線斷絲,不影響二次張拉法的測(cè)試
D.上述說(shuō)法均不對(duì)
最新試題
對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。
對(duì)含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無(wú)需X射線檢測(cè)。