A.規(guī)劃求解可以求出回歸方程在約束條件下的最優(yōu)解
B.規(guī)劃求解的原理是對(duì)回歸方程的自變量求導(dǎo)等于0
C.規(guī)劃求解要求先在excel表格中先輸入求解的方程,然后從數(shù)據(jù)——規(guī)劃求解進(jìn)入
D.規(guī)劃求解時(shí)只能求方程的解,不能對(duì)自變量添加約束
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.全因子設(shè)計(jì)
B.響應(yīng)曲面設(shè)計(jì)
C.正交設(shè)計(jì)
D.混料設(shè)計(jì)
A.方案設(shè)計(jì)時(shí)選擇的方法
B.方案設(shè)計(jì)中的實(shí)驗(yàn)點(diǎn),是包含線上的軸點(diǎn)還是重心點(diǎn)
C.自變量的個(gè)數(shù)
D.自變量的階數(shù)
E.各自變量取值的上下限
A.數(shù)據(jù)管理
B.數(shù)據(jù)分析
C.規(guī)劃求解
D.應(yīng)用開(kāi)發(fā)
A.單因素
B.雙因素
C.多因素
D.混合水平
A.查表的F臨界值的0.00113
B.與顯著性水平為0.00113的F臨界值相等
C.該F檢驗(yàn)的強(qiáng)度保證率為0.00113
D.該F檢驗(yàn)的保證率達(dá)到99.887%
最新試題
下列()不屬于物相定量分析方法。
TMA測(cè)試材料的尺寸變化,因此只能利用它表征材料尺寸。
下列()是玻璃生產(chǎn)最重要的環(huán)節(jié)。
盛放被測(cè)試樣品的坩堝應(yīng)保證可以與樣品進(jìn)行反應(yīng)。
在三個(gè)假設(shè)的前提下,運(yùn)動(dòng)學(xué)理論在處理衍射強(qiáng)度時(shí),采用了()兩個(gè)基本近似。
支持膜或復(fù)型薄膜不應(yīng)該顯示出()。
電子探針中能譜儀和波譜儀均需長(zhǎng)期置于低溫狀態(tài)。
DMA測(cè)試常見(jiàn)的兩種掃描測(cè)試方式為()。
電子探針的主要作用是用來(lái)進(jìn)行()分析。
高分辨成像含兩個(gè)基本過(guò)程,分別對(duì)應(yīng)著數(shù)學(xué)上的傅里葉變換和反傅里葉變換。