A.對(duì)于微細(xì)裂紋的顯示,厚的顯示劑涂層比薄的涂層更為清晰
B.黑色顯示劑的反差比白色顯示劑好
C.應(yīng)使用壓縮空氣清除多余的顯示劑
D.對(duì)于微細(xì)裂紋的顯示,薄的顯示劑涂層比的厚涂層更為清晰
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A.測(cè)定滲透劑的粘度
B.測(cè)量滲透劑的潤(rùn)濕能力
C.在具有人工裂紋的A型鋁合金試塊或B型鍍鉻試塊上通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)確定
D.上述方法都需要
A.溶劑去除型熒光滲透法
B.溶劑去除型著色滲透法
C.后乳化型熒光滲透法
D.后乳化型著色滲透法
A.只需見(jiàn)到缺陷顯示,不一定非要在施加顯像劑10-15分鐘后進(jìn)行跡痕解釋和評(píng)定
B.為保證著色探傷中檢查細(xì)微缺陷的需要,被檢零件的照度應(yīng)不超過(guò)200Lx
C.熒光探傷時(shí)暗室中的白光強(qiáng)度應(yīng)不超過(guò)5Lx
D.以上說(shuō)法都不對(duì)
A.酸洗
B.打磨
C.噴砂
D.蒸氣除油
A.200nm
B.365nm
C.400nm
D.沒(méi)有要求
最新試題
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。