A.目視法
B.射線法
C.磁粉法
D.渦流法
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A.可在光線較暗的環(huán)境下觀察缺陷
B.被探測(cè)零件表面不會(huì)被腐蝕
C.對(duì)零件和環(huán)境的污染小
D.較易檢出微小的缺陷
A.沖洗不夠
B.后乳化法時(shí)乳化時(shí)間不足
C.多孔性材料和涂層
D.以上都可能
A.預(yù)清洗
B.乳化
C.對(duì)顯示跡痕的判斷與解釋
D.滲透劑的清除
A.對(duì)于微細(xì)裂紋的顯示,厚的顯示劑涂層比薄的涂層更為清晰
B.黑色顯示劑的反差比白色顯示劑好
C.應(yīng)使用壓縮空氣清除多余的顯示劑
D.對(duì)于微細(xì)裂紋的顯示,薄的顯示劑涂層比的厚涂層更為清晰
A.測(cè)定滲透劑的粘度
B.測(cè)量滲透劑的潤(rùn)濕能力
C.在具有人工裂紋的A型鋁合金試塊或B型鍍鉻試塊上通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)確定
D.上述方法都需要
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()是影響缺陷定量的因素。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
單探頭法容易檢出()。