A.內(nèi)部缺陷處的漏磁通,比同樣大小的表面缺陷為大 B.缺陷的漏磁通通常同試件上的磁通密度成反比 C.表面缺陷的漏磁通密度,隨著離開表面距離的增加而急劇減弱 D.用有限線圈磁化長的試件,不需進行分段磁化
A.磁化的磁場強度與材料的導(dǎo)磁率 B.缺陷埋藏的深度、方向和形狀尺寸 C.缺陷內(nèi)部的介質(zhì) D.A、B和C
A.矯頑力 B.漏磁場 C.多普勒效應(yīng) D.裂紋處的高應(yīng)力