A、聲束細(xì),每次掃查探測區(qū)域小,頻率低
B、每只探頭僅適宜探測某一深度范圍缺陷,通用性差
C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差,聲束不能完全匯聚一點(diǎn)
D、以上都是
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A、靈敏度高
B、橫向分辨率高
C、縱向分辨率高
D、探測粗晶材料時(shí)信噪比高
A、Ф0.6mm
B、Ф1mm
C、Ф2mm
D、Ф0.3mm
A、Ф1mm
B、Ф2mm
C、Ф4mm
D、Ф0.5mm
A、增大6db
B、減少6db
C、增大3db
D、減少3db
A、增大6db
B、減少6db
C、增大3db
D、減少3db
最新試題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。