A.掃描長度
B.掃描速度
C.單位時間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
D.鋸齒波電壓幅度
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A.74dB
B.66dB
C.60dB
D.80dB
A.發(fā)射電路在單位時間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)
B.掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
C.探頭晶片在單位時間內(nèi)向工件重復(fù)輻射超聲波次數(shù)
D.以上全部都是
A.1―2個
B.數(shù)十個到數(shù)千個
C.與工作頻率有同
D.以上都不對
A.靈敏度范圍
B.線性范圍
C.分辨力范圍
D.選擇性范圍
A.缺陷的性質(zhì)和大小
B.缺陷的形狀和取向
C.缺陷回波的大小和超聲傳播的時間
D.以上都是
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。