A.應減小阻尼塊
B.應使用大直徑晶片
C.應使壓電晶片在它的共振基頻上激勵
D.換能器頻帶寬度應盡可能大
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.Q降低,靈敏度提高
B.Q值增大,分辨力提高
C.Q值增大,盲區(qū)增大
D.Q值降低,分辨力提高
A.儀器分辨力提高
B.儀器分辨力降低,但超聲強度增大
C.聲波穿透力降低
D.對試驗無影響
A.掃描長度
B.掃描速度
C.單位時間內(nèi)重復掃描次數(shù)
D.鋸齒波電壓幅度
A.74dB
B.66dB
C.60dB
D.80dB
A.發(fā)射電路在單位時間內(nèi)重復發(fā)射脈沖次數(shù)
B.掃描電路每秒鐘內(nèi)重復掃描次數(shù)
C.探頭晶片在單位時間內(nèi)向工件重復輻射超聲波次數(shù)
D.以上全部都是
最新試題
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。