A.探測范圍大
B.盲區(qū)小
C.工件中近場長度小
D.雜波少
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A.檢測精度高，定位定量準
B.頻帶寬，脈沖窄
C.可記錄存儲信號
D.儀器有計算和自檢功能
A.透聲性能好
B.材質(zhì)衰減小
C.有利消除耦合差異
D.以上全部
A、Z1＞Z2
B、C1＜C2
C、C1＞C2
D、Z1＜Z2
A.爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫波斜探頭類似
B.當縱波入射角大于或等于第二臨界角時，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波
C.爬波用于探測表層缺陷
D.爬波探測的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)
A.鈦酸鋇（CL=5470m/s）
B.鈦酸鋰（CL=7400m/s）
C.PZT（CL=4400m/s）
D.鈦酸鉛（CL=4200m/s）
最新試題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。