A.聲阻抗小且粘度大的耦合劑
B.聲阻抗小且粘度小的耦合劑
C.聲阻抗大且粘度大的耦合劑
D.以上都不是
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A.被檢工件厚度太大
B.工件底面與探測面不平行
C.耦合劑有較大聲能損耗
D.工件與試塊材質(zhì),表面光潔度有差異
A.只有當聲束投射到整個缺陷發(fā)射面上才能得到反射回波最大值
B.只有當聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值
C.只有當聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值
D.人為地將缺陷信號的最高回波規(guī)定為測定基準
A.聲束擴散損失
B.耦合損耗
C.工件幾何形狀影響
D.以上都是
A.平底孔
B.平行于探測面且垂直于聲束的平底槽
C.平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔
D.平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口
A.作為探測時的校準基準,并為評價工件中缺陷嚴重程度提供依據(jù)
B.為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具
C.為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證
D.提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。