一般認為表面波探測的有效深度約為（）

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）

若評片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

對軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準反射而進行靈敏度調(diào)整時，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。

在筒身外壁做曲面周向探傷時（r、R為簡體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

調(diào)節(jié)掃描速度時，應(yīng)使（）同時對準相應(yīng)的水平刻度值。