A.原材料缺陷
B.鍛造缺陷
C.熱處理缺陷
D.以上都有
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.加熱、形變、成型和冷卻
B.加熱、形變
C.形變、成型
D.以上都不全面
A.盲區(qū)增大
B.聲束在管中折射發(fā)散
C.多種波形傳播
D.回波脈沖變寬
A.探傷速度較快
B.回波幅度隨缺陷長度增大而增高
C.聚焦方法一般采用圓柱面透鏡或瓦片型鏡片
D.以上全部
A.對(duì)短缺陷有較高探測(cè)靈敏度
B.聚焦方法一般采用圓柱面聲透鏡
C.缺陷長度達(dá)到一定尺寸后，回波幅度不隨長度而變化
D.探傷速度較慢
A.探頭楔塊
B.管材中的縱、橫波聲速
C.管子的規(guī)格
D.以上全部
最新試題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
單探頭法容易檢出（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。