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A.用45°斜探頭探出
B.用直探頭探出
C.用任何探頭探出
D.反射訊號(hào)很小而導(dǎo)致漏檢

A.保持靈敏度不變
B.適當(dāng)提高靈敏度
C.增加大K值探頭探測(cè)
D.以上B和C

A.增大
B.減小
C.不變
D.以上A和B

A.斜平行掃查
B.串列掃查
C.雙晶斜探頭前后掃查
D.交叉掃查

A.條狀?yuàn)A渣
B.氣孔或圓形夾渣
C.裂紋
D.以上A和C

A.近場(chǎng)效應(yīng)
B.受分辨力影響
C.盲區(qū)
D.受反射波影響

A.提高探測(cè)頻率
B.用多種角度探頭探測(cè)
C.修磨探傷面
D.以上都可以

A.4，6，8，10
B.3，5，7，9
C.6，10
D.以上都可以

A.缺陷定位
B.缺陷定量
C.判定結(jié)構(gòu)反射波和缺陷波
D.以上A和C

A.將測(cè)長(zhǎng)線(xiàn)下移4dB
B.將判廢線(xiàn)下移4dB
C.三條線(xiàn)同時(shí)上移4dB
D.三條線(xiàn)同時(shí)下移4dB