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A.直探頭在翼板上掃查探測(cè)
B.斜探頭在翼板外側(cè)或內(nèi)側(cè)掃查探測(cè)
C.直探頭在腹板上掃查探測(cè)
D.斜探頭在腹板上掃查探測(cè)
A.宜采用較高頻率，一般為5MHZ
B.宜采用大角度斜探頭，其中β＝70°探頭較好
C.宜采用粘度大的耦合劑，如黃油
D.一般以橫波斜探頭從主管探測(cè)為主，支管探測(cè)為輔
A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
A.用45°斜探頭探出
B.用直探頭探出
C.用任何探頭探出
D.反射訊號(hào)很小而導(dǎo)致漏檢
A.保持靈敏度不變
B.適當(dāng)提高靈敏度
C.增加大K值探頭探測(cè)
D.以上B和C
最新試題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。