A.距離幅度特征、頻率響應、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
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A.距離幅度特征、頻率響應、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.相對靈敏度、時間域響應、噪聲電平
B.聲軸偏斜角、聲束擴展特征、距離幅度特征
C.頻率響應、分辨力、入射點或折射角
D.以上都是
A.缺陷取向
B.缺陷波幅和傳播時間
C.缺陷的指示長度
D.以上都是
A.增加發(fā)射強度
B.使回波的電信號放大倍數(shù)增加
C.提高晶片振動次數(shù)
D.使發(fā)射的聲束尖銳
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
儀器水平線性影響()。
當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質衰減不同時,需要進行傳輸修正。
單探頭法容易檢出()。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。