單項(xiàng)選擇題當(dāng)波從高阻抗介質(zhì)進(jìn)入低阻抗介質(zhì)時(shí),反射波波形的相位在兩種介質(zhì)交界處與透射波波形的相位()

A.會(huì)發(fā)生反向
B.不會(huì)發(fā)生反向
C.不確定
D.波形會(huì)消失


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1.單項(xiàng)選擇題低應(yīng)變法測(cè)基樁完整性時(shí),下面關(guān)于傳感器安裝的說(shuō)法不正確的是()

A.傳感器用黏合劑黏結(jié)時(shí),黏結(jié)層應(yīng)盡可能薄,傳感器底安裝面應(yīng)與樁頂面緊密接觸
B.激振點(diǎn)與傳感器安裝點(diǎn)應(yīng)遠(yuǎn)離鋼筋籠的主筋,其目的是減少外露主筋振動(dòng)對(duì)測(cè)試產(chǎn)生干擾信號(hào)
C.實(shí)心樁安裝點(diǎn)在距樁中心約2/3半徑
D.每個(gè)檢測(cè)點(diǎn)有效信號(hào)數(shù)保存1個(gè)即可

4.單項(xiàng)選擇題關(guān)于基樁完整性檢測(cè),下面說(shuō)法哪個(gè)不正確()

A.低應(yīng)變法檢測(cè)時(shí)儀器傳感器可采用加速度傳感器
B.低應(yīng)變法檢測(cè)時(shí)只要樁頭外露即可,不需要對(duì)樁頭進(jìn)行特別處理
C.聲波透射法檢測(cè)時(shí)要求聲測(cè)管無(wú)堵塞且要注滿清水
D.低應(yīng)變法對(duì)斷樁非常敏感,而聲波透射法卻有可能漏測(cè)

最新試題

X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題

對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。

題型:判斷題