A.超聲波無(wú)法透過(guò)
B.聲波被吸收
C.聲波分為透過(guò)波和反射波兩部分
D.以上都不是
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A.(Z2-Z1)/(Z2+Z1)
B.2Z2/(Z2+Z1)
C.(Z2-Z1)2/(Z2+Z1)2
D.(4Z1+Z2/Z2+Z1)2
A.表面波全反射
B.橫波45°
C.表面波
D.以上都不對(duì)
A.14.7°
B.17°
C.20°
D.不成立
A.27.5°
B.45°
C.50°
D.不成立
A.入射縱波軸線(xiàn)與通過(guò)入射點(diǎn)法線(xiàn)的夾角
B.入射橫波軸線(xiàn)與通過(guò)入射點(diǎn)法線(xiàn)的夾角
C.傾斜晶片與探測(cè)面的夾角
D.入射波軸線(xiàn)與界面的夾角
最新試題
單探頭法容易檢出()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的()。
()是影響缺陷定量的因素。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。