問答題簡述頻率測(cè)深的基本原理及特點(diǎn)。

您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.多項(xiàng)選擇題聯(lián)合剖面法理論上在找下列哪些電性和產(chǎn)狀的礦體能產(chǎn)生明顯的異常？（）

A.直立的低阻礦體
B.直立的高阻礦體
C.水平的低阻礦體
D.低阻囊狀礦體

2.多項(xiàng)選擇題中間梯度法理論上在找下列哪些電性和產(chǎn)狀的礦體能產(chǎn)生明顯的異常？（）

A.直立的低阻礦體
B.直立的高阻礦體
C.水平的低阻礦體
D.水平的高阻礦體

3.多項(xiàng)選擇題下列電磁方法中哪些方法屬于被動(dòng)場源法？（）

A.MT法
B.TEM法
C.GPR法
D.VLE法

4.多項(xiàng)選擇題在電磁法勘探中哪些方法可以忽略位移電流的影響？（）

A.MT法
B.TEM法
C.GPR法
D.VLE法

5.多項(xiàng)選擇題下列哪些測(cè)量參數(shù)受靜態(tài)位移影響較小？（）

A.ρTM
B.φTM
C.ρTE
D.φTE