每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

變形振動分為（）。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結(jié)果。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。