粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

拉曼光譜分析時，1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

在體心點陣中，當（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

紅外光分為（）。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。