在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實驗操作有（）。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。