半導(dǎo)體探測器受強(qiáng)輻射照射一段時(shí)間以后性能會(huì)逐漸變壞,這種效應(yīng)稱為半導(dǎo)體探測器的輻射損傷效應(yīng),簡稱輻射損傷或輻照效應(yīng)。