A.因?yàn)楸仨殞?duì)試件施加變化的磁場(chǎng)
B.因?yàn)橐眉w效應(yīng)來(lái)提高探出表面缺陷的性能
C.因?yàn)橛弥绷鞣创艌?chǎng)的影響大,所以探出缺陷的能力低
D.因?yàn)榻涣鞅戎绷魅菀椎玫?/p>
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A.相位調(diào)整是為了抑制雜亂信號(hào),只讓缺陷信號(hào)檢測(cè)出來(lái)
B.相位調(diào)整是指選用三相交流電中的哪一相
C.相位調(diào)整是調(diào)整移相器的相位角
D.為了輸出特定相位的缺陷信號(hào),用檢波器進(jìn)行同步檢波
E.除b以外都對(duì)
A.為了防止探傷儀器的失靈,盡可能不要預(yù)先進(jìn)行穩(wěn)定
B.選定探傷規(guī)范是用對(duì)比試塊來(lái)進(jìn)行的
C.探傷靈敏度是選定在探傷儀器的最大靈敏度上的
D.當(dāng)檢測(cè)缺陷信號(hào)時(shí),由平衡調(diào)整來(lái)判斷缺陷的大小
A.缺陷、材質(zhì)變化、尺寸變化等的顯示度可以區(qū)別得出
B.一般說(shuō)來(lái),缺陷同材質(zhì)不連續(xù)部分的顯示很難區(qū)別
C.檢測(cè)表面缺陷的能力很強(qiáng)
D.因內(nèi)部缺陷的信息都能感應(yīng)到表面上來(lái),所以內(nèi)部缺陷與表面缺陷的檢測(cè)能力相仿
E.b和c是正確的
A.用來(lái)抑制因強(qiáng)磁性材料加工引起的磁導(dǎo)率不均勻而造成的雜亂信號(hào)
B.用來(lái)降低強(qiáng)磁性材料的磁導(dǎo)率,從而減小渦流的集膚效應(yīng)
C.用來(lái)抑制試件表面凹凸不平所引起的雜亂信號(hào)
D.用來(lái)提高強(qiáng)磁性材料的磁通密度,從而提高探傷靈敏度
E.A和B是正確的
A.材料厚度
B.需要的透入深度
C.需要的靈敏度和分辨力
D.檢驗(yàn)?zāi)康?br />
E.以上都是
最新試題
射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈,其阻抗變大的情況有()
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。
按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。