A.渦流與缺陷的主平面共面;
B.渦流垂直于缺陷的主平面;
C.渦流平行于缺陷的主平面;
D.渦流與線圈中的電流相位相差90°
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.決定于頻率、線圈電感、線圈電阻
B.僅僅決定于線圈電感
C.僅僅決定于頻率和線圈電阻
D.僅僅決定于頻率和線圈電感
A.工件的表面粗糙度
B.工件的直徑
C.工件的壁厚
D.工件的長(zhǎng)度
A.缺陷深度
B.缺陷寬度
C.缺陷長(zhǎng)度
D.以上都是
A.必須有諸如槽口或鉆孔等人工缺陷
B.必須有諸如夾雜和裂紋等自然缺陷
C.必須沒有可檢出的缺陷
D.可具有人工或自然缺陷,也可無缺陷,依試驗(yàn)系統(tǒng)和試驗(yàn)的類型而定
A.探頭式線圈適用于線材、管材、棒材等的檢測(cè)
B.穿過式線圈適用于管材內(nèi)壁的檢測(cè)
C.探頭式線圈適用于板材或工件表面的局部探傷
D.插入式線圈適用于管材等內(nèi)壁的檢測(cè)
E.c和d是正確的
最新試題
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。