A.被檢產(chǎn)品無缺陷；
B.被檢產(chǎn)品允許有缺陷部位；
C.被檢產(chǎn)品質(zhì)量低劣
D.被檢產(chǎn)品質(zhì)量不穩(wěn)定
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A.渦流試驗(yàn)不能準(zhǔn)確測量電導(dǎo)率；
B.需要低速試驗(yàn)以防漏檢；
C.在輸出顯示中出現(xiàn)大量的已知或未知的變量；
D.渦流試驗(yàn)不能檢出小缺陷
A.螺線管線圈
B.磁軛
C.螺線管線圈和磁軛
A.渦流與缺陷的主平面共面；
B.渦流垂直于缺陷的主平面；
C.渦流平行于缺陷的主平面；
D.渦流與線圈中的電流相位相差90°
A.決定于頻率、線圈電感、線圈電阻
B.僅僅決定于線圈電感
C.僅僅決定于頻率和線圈電阻
D.僅僅決定于頻率和線圈電感
A.工件的表面粗糙度
B.工件的直徑
C.工件的壁厚
D.工件的長度
最新試題
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
在射線照相檢驗(yàn)中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）
X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。
對于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí)，就可采用多膠片技術(shù)。
航天無損檢測人員的資格分為三個(gè)等級：Ⅰ級為初級，Ⅱ級為中級，Ⅲ級為高級。其中Ⅱ級人員應(yīng)具備的能力有（）。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量，因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
二次打底焊接或重熔排除，無需辦理相關(guān)手續(xù)，直接使用前次的申請手續(xù)。