單項(xiàng)選擇題使用任何渦流系統(tǒng)時(shí),設(shè)備操縱必須考慮().

A.操作者的能力;
B.被檢產(chǎn)品的用處;
C.試驗(yàn)速度、試驗(yàn)頻率、分選速度和產(chǎn)品的物理參量控制;
D.以上都是.


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1.單項(xiàng)選擇題使用穿過(guò)式線圈的橢圓方法().

A.可檢驗(yàn)棒材、管材和絲材的表面和近表面裂紋;
B.不能測(cè)量含有表面裂紋的棒材直徑;
C.在非鐵棒材分選中的價(jià)值有限;
D.不受提離變化的影響.

2.單項(xiàng)選擇題當(dāng)狹縫技術(shù)與線性時(shí)基方法一起使用時(shí)().

A.相位移將使陰極射線管上的波形向左或向右移動(dòng);
B.校準(zhǔn)后,如果出現(xiàn)缺陷,陰極射線管上的波形向上或向下移動(dòng);
C.設(shè)備經(jīng)調(diào)整後,磁導(dǎo)率和電導(dǎo)率變化時(shí),狹縫值變化很小或無(wú)變化;
D.當(dāng)電導(dǎo)率影響在水平線上顯示時(shí),尺寸影響將不在狹縫上顯示

3.單項(xiàng)選擇題在穿過(guò)式圍繞線圈渦流系統(tǒng)中,校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)可用來(lái)()

A.保證調(diào)整的重復(fù)性可靠性;
B.校準(zhǔn)可檢出的缺陷的近似深度;
C.A和B;
D.測(cè)量試驗(yàn)頻率.

4.單項(xiàng)選擇題用導(dǎo)電材料或磁性材料屏蔽試驗(yàn)線圈的目的是().

A.使電磁場(chǎng)成形;
B.提高靈敏度;
C.提高分辯力;
D.以上都是;
E.以上都不是。

5.單項(xiàng)選擇題試驗(yàn)線圈的感抗是阻抗最重要的分量之一,它取決于().

A.頻率、線圈電感、線圈電阻;
B.僅取決于線圈電感;
C.僅取決于線圈電阻和電感;
D.僅取決于頻率和線圈電阻;
E.僅取決于頻率和線圈電感.

最新試題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。

題型:判斷題

按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。

題型:判斷題

對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。

題型:判斷題