單項(xiàng)選擇題有效磁導(dǎo)率μeff是指()。

A.試件的真實(shí)磁導(dǎo)率
B.真空磁導(dǎo)率
C.一個(gè)假設(shè)的隨試件各點(diǎn)性能變化的磁導(dǎo)率
D.標(biāo)準(zhǔn)試件的相對磁導(dǎo)率


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1.單項(xiàng)選擇題描述檢測線圈能區(qū)分開兩個(gè)最近缺陷距離的術(shù)語是()。

A.分辨力
B.準(zhǔn)確度
C.靈敏度
D.線性度

2.單項(xiàng)選擇題在檢驗(yàn)渦流探傷設(shè)備時(shí),所謂的漏檢率與錯(cuò)檢率,在通常情況下,是指檢驗(yàn)()。

A.自然傷
B.缺陷的絕對深度
C.標(biāo)準(zhǔn)傷
D.缺陷的絕對體積

3.單項(xiàng)選擇題渦流探傷中所說的靈敏度應(yīng)是指()。

A.信號幅度與噪聲幅度之比
B.信號相位與噪聲相位之比
C.信號頻率與噪聲頻率之比
D.信號寬度與噪聲寬度之比

4.單項(xiàng)選擇題探頭與被檢管材之間的相對運(yùn)動(dòng)方式,可以是()。

A.點(diǎn)探頭旋轉(zhuǎn)、被檢管直線前進(jìn)
B.點(diǎn)探頭不動(dòng)、被檢管即旋轉(zhuǎn)有前進(jìn)
C.將點(diǎn)探頭沿管圓周排成一圈,被檢管直線前進(jìn)
D.以上各條都行

5.單項(xiàng)選擇題若被檢管材從Φ10mm調(diào)換為Φ20mm時(shí),只需調(diào)換一下位置,而不需要另換探頭的是()。

A.旋轉(zhuǎn)點(diǎn)探頭
B.穿過式探頭
C.內(nèi)插式探頭
D.扇形探頭

最新試題

對焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測。

題型:判斷題

一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題

提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()

題型:單項(xiàng)選擇題

缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。

題型:判斷題

X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。

題型:判斷題

對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:單項(xiàng)選擇題

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題