單項(xiàng)選擇題在渦流探傷儀中實(shí)現(xiàn)阻抗分析法的主要單元是()。

A.標(biāo)記器
B.放大器
C.相敏檢波器
D.記錄器


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題幅度鑒別器可用來提高缺陷信號(hào)的()。

A.幅度
B.周期
C.信噪比
D.帶負(fù)載能力

2.單項(xiàng)選擇題相敏檢波器為了起到阻抗分析的作用,除要加入缺陷信號(hào)之外,還要加入()。

A.經(jīng)移相的激勵(lì)信號(hào)
B.不經(jīng)移相的激勵(lì)信號(hào)
C.任意相位的正弦信號(hào)
D.以上三種都可以

3.單項(xiàng)選擇題為了從緩慢的尺寸變化信號(hào)中分析出短促的缺陷信號(hào),可采用()。

A.通濾波器
B.旁路濾波器
C.高通濾波器
D.電源濾波器

4.單項(xiàng)選擇題渦流探傷儀中給探頭提供激勵(lì)電流的單元是()。()。

A.移相器和相敏檢波器
B.振盈器和功率放大器
C.高、低通濾波器
D.示波器和報(bào)警器

5.單項(xiàng)選擇題渦流探傷儀中的零電勢(shì)補(bǔ)償器是用來()。

A.抵消檢測(cè)線圈中的零電勢(shì)
B.減弱檢測(cè)線圈的提離效應(yīng)
C.增加探傷的分辨率
D.減小儀器中直流放大器的零點(diǎn)漂移

最新試題

一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無需X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。

題型:判斷題

廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。

題型:判斷題

為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。

題型:判斷題

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

題型:判斷題

下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題