A.0.5
B.0.75
C.1
D.0.25
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A.趨膚效應(yīng)
B.高頻濾波
C.低頻濾波
D.邊緣效應(yīng)
A.變壓器
B.電容器
C.蓄電池
D.發(fā)電機(jī)
A.磁導(dǎo)率
B.電導(dǎo)率
C.直徑
D.頻率
A.示波器
B.靈敏度旋鈕位置
C.振蕩器
D.調(diào)制頻率旋鈕位置
A.校核相位靈敏度
B.保證試樣與線圈的對(duì)中
C.選擇調(diào)制頻率的旋鈕位置
D.選擇合適的檢驗(yàn)速度
最新試題
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測報(bào)告副本、檢測報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()