A.1.25HZ
B.12.5HZ
C.1.25KHZ
D.12.5KHZ
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A.相位失真
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C.相位補償
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C.反電動勢
D.剩磁
A.矯頑力
B.剩磁
C.飽和值
D.磁滯損耗
A.材料磁導率
B.實驗頻率
C.物體幾何形狀
D.以上都是
A.低通濾波器
B.振蕩器
C.相位鑒別器
D.高通濾波器
最新試題
缺陷分類應符合驗收標準的要求,標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關人員參考,但不作為合格與否判定的依據。
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產品,工藝規(guī)程應作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認,檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術。
檢測申請時工序狀態(tài)應清楚、工序質量應符合工序質量要求,檢驗蓋章確認,確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
X光檢驗組按復查清單組織復查,并出具X光底片復查報告,復查無遺留問題方可進行試壓。
底片圖像質量參數中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
對含有內穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
像質計放置次數一般應與透照次數相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數.但不少于透照次數的三分之一。