質譜儀中使被分析物質電離成離子的部分。常見的有電子轟擊源EI、化學電離源CI、快原子轟擊源FAB等。
以質譜中基峰(最強峰)的高度為100%,其余峰按與基峰的比例加以表示的峰強度為相對豐度,又稱相對強度
激發(fā)核通過非輻射途徑損失能量而恢復至基態(tài)的過程。