A.準(zhǔn)備重新分析新的質(zhì)量控制物標(biāo)本
B.檢查測(cè)定方法本身
C.更換試劑
D.重新定標(biāo)
E.聯(lián)系廠家

A.均數(shù)μ和標(biāo)準(zhǔn)差σ
B.標(biāo)準(zhǔn)差和標(biāo)準(zhǔn)誤
C.標(biāo)準(zhǔn)差和方差
D.標(biāo)準(zhǔn)差和變異系數(shù)
E.平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)誤

A.在Levey－Jennings方法基礎(chǔ)上發(fā)展起來的
B.通過單值質(zhì)量控制圖進(jìn)行簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)分析和顯示
C.具有高的假失控或假報(bào)警概率
D.當(dāng)失控時(shí)，常能確定產(chǎn)生失控的分析誤差的類型
E.可幫助確定失控的原因以尋找解決問題的辦法

A.均值－標(biāo)準(zhǔn)差控制圖
B.均值－極差控制圖
C.加標(biāo)回收控制圖
D.OPSpecs圖
E.空白值控制圖

A.實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制的核心是杜絕試驗(yàn)誤差
B.實(shí)驗(yàn)室的檢驗(yàn)誤差是很難避免的，它是客觀存在的
C.運(yùn)用精密的儀器，先進(jìn)的方法，可以保證實(shí)驗(yàn)室結(jié)果無誤差
D.誤差是測(cè)定結(jié)果與某個(gè)三級(jí)醫(yī)院實(shí)驗(yàn)室測(cè)定結(jié)果之間的差值
E.誤差大小反映了結(jié)果的精密程度