A.頻帶越寬,脈沖越寬,則分辨力高,靈敏度低
B.頻帶越寬,脈沖越寬,則分辨力低,靈敏度高
C.頻帶越寬,脈沖越窄,則分辨力低,靈敏度高
D.頻帶越寬,脈沖越窄,則分辨力高,靈敏度低
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A.減小盲區(qū)
B.使聲能集中在某一區(qū)域
C.提高信噪比
D.以上都是
A.提高近表面缺陷的探測(cè)能力
B.精確測(cè)量缺陷的尺寸
C.擴(kuò)大掃查面積
D.增加探測(cè)深度
A.提高局部區(qū)域的檢測(cè)靈敏度
B.提高信噪比
C.提高局部區(qū)域的橫向分辨力
D.以上都是
A.提高檢測(cè)靈敏度
B.提高信噪比
C.提高近表面檢測(cè)能力
D.以上都是
A.槽口
B.平底孔
C.橫孔
D.以上都是
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
儀器水平線性影響()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。