A.必須有合適的入射面
B.對各種不同結(jié)果的解釋要求具備較高的技能
C.采用的方法是否有效直接取決于入射方向與缺陷的取向
D.粗糙的表面會影響檢查結(jié)果
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.斜入射縱波
B.斜入射橫波
C.表面波
D.縱波雙晶片探頭
A.最下層板的孔周圍的裂紋
B.最上層板的孔周圍的裂紋
C.使聲波導(dǎo)入的那層板的孔周圍的裂紋
D.任何一層板的孔周圍的裂紋
A.均勻的漆層
B.薄而均勻的密封膠或防腐涂層
C.鍍層
D.以上都必須去除
A.波峰尖銳、前沿陡峭、波峰起伏變化快
B.波較寬、波尖多峰、伴隨雜波、起伏平緩
C.波幅較高、波峰起伏變化快
D.以上都可能
A.能夠清晰分辨孔壁信號和起始于孔壁的小裂紋信號
B.能夠獲得準(zhǔn)確的裂紋位置和尺寸
C.能夠很容易在試塊上找出裂紋信號
D.以上都是
最新試題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
單探頭法容易檢出()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
當(dāng)超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。