A.光速測(cè)量的誤差主要來(lái)源于波長(zhǎng)測(cè)量的誤差
B.電路不穩(wěn)定造成的相移變化是較緩慢的。在這種情況下，只要測(cè)量所用的時(shí)間足夠短，就可以把相移的緩慢變化作線(xiàn)性近似
C.采用發(fā)射光束中不同的位置進(jìn)行測(cè)量不會(huì)給波長(zhǎng)測(cè)量帶來(lái)誤差
D.光源的位相一致性好壞及信號(hào)強(qiáng)度的大小不會(huì)影響測(cè)量的準(zhǔn)確性和精度
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A.為了提高光速儀所產(chǎn)生激光的亮度
B.電子儀器存在溫飄問(wèn)題
C.為了增大頻率計(jì)輸出信號(hào)的能量
D.電學(xué)儀器都要進(jìn)行預(yù)熱才能使用
當(dāng)信號(hào)的頻率很高時(shí)，測(cè)量相位是比較困難的，為了避免這個(gè)問(wèn)題，在光速測(cè)量實(shí)驗(yàn)中采用了（）的方法，將100MHz的（）和（）分別與本機(jī)振蕩器產(chǎn)生的（）混頻，得到兩個(gè)低頻信號(hào)進(jìn)行比相。
a.高頻基準(zhǔn)信號(hào)
b.高頻振蕩信號(hào)
c.高頻被測(cè)信號(hào)
d.差頻檢相
A.d；a；c；b
B.d；b；c；a
C.d；a；b；c
D.d；c；b；a
在光速測(cè)量實(shí)驗(yàn)中，通過(guò)測(cè)量（）的波長(zhǎng)和頻率測(cè)出光速的，原因是（）。
a.光
b.調(diào)制波
c.光的頻率高達(dá)1014Hz，目前的光電接收器中無(wú)法響應(yīng)頻率如此高的光強(qiáng)變化，而無(wú)法直接測(cè)量光的波長(zhǎng)和頻率
d.為了驗(yàn)證一種新的測(cè)量光速的方法
A.a；c
B.b；c
C.a；d
D.b；d
A.暗電流；反向電流；光電流
B.光電流；反向電流；暗電流
C.光電流；暗電流；反向電流
D.反向電流；光電流；暗電流
在用光電效應(yīng)測(cè)定普朗克常量的實(shí)驗(yàn)中的誤差主要來(lái)源于（）和（）。
a.所用測(cè)量?jī)x器不夠精確
b.單色光不夠嚴(yán)格
c.陰極光電流的截止電壓的確定
d.其它因素
A.a；b
B.a；c
C.b；c
D.b；d
最新試題
某物體質(zhì)量的測(cè)量值為32.125，32.116，32.121，32.124，32.126，32.122，（單位：g）試求其算術(shù)平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。
在用示波器觀察波形圖時(shí)，某同學(xué)測(cè)得的波形最高點(diǎn)到最低為6DIV，Y通道偏轉(zhuǎn)因子開(kāi)關(guān)開(kāi)關(guān)V/DIV置于5V位置，微調(diào)調(diào)至校準(zhǔn)位置，則該同學(xué)得到的波形信號(hào)幅度為（）
硅光電池的主要特性有（）
三線(xiàn)擺實(shí)驗(yàn)中，在下懸盤(pán)繞中心軸的轉(zhuǎn)動(dòng)慣量已經(jīng)測(cè)定的條件下，測(cè)定圓環(huán)繞中心軸轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)的轉(zhuǎn)動(dòng)慣量所依據(jù)的原理是（）
邁克爾遜干涉儀問(wèn)世以來(lái)，完成了下列哪幾個(gè)實(shí)驗(yàn)？（）
在薄透鏡成像實(shí)驗(yàn)中，拿取透鏡的方法是（）
凸透鏡的成像規(guī)律：當(dāng)物距大于兩倍焦距，成縮小倒立的實(shí)像，以下選項(xiàng)中根據(jù)此原理設(shè)計(jì)的是（）
在下面列舉的應(yīng)用中，利用太陽(yáng)能電池供電的是（）。
在密立根油滴實(shí)驗(yàn)中，需要記錄的物理量有（）。
在密立根油滴實(shí)驗(yàn)前，需要將實(shí)驗(yàn)裝置進(jìn)行水平調(diào)節(jié)。