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橫孔試塊不能測定探頭雙峰。
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在平底孔、短橫孔等靈敏度試塊上進行靈敏度調節(jié)的最終目的是為了實現(xiàn)缺陷的定量。
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無損檢驗的優(yōu)點之一在于能不損害被檢件的使用性能而確定被檢件的質量。
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