A.缺陷檢出能力 B.材料衰減 C.指向性 D.分辨率 E.以上都是
A.高頻率、橫波 B.較低頻率、橫波 C.高頻率、縱波 D.較低頻率、縱波
A.工作頻率 B.探頭和儀器參數(shù) C.耦合條件與狀態(tài) D.探測(cè)面 E.以上都是