A.布拉格方程
B.勞厄方程
C.其中θ稱為衍射角
D.θ稱為布拉格角
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下列譜圖所代表的化合物中含有的基團(tuán)包括()
A.A
B.B
C.C
D.D
A.表面形貌和晶體結(jié)構(gòu)
B.內(nèi)部組織和晶體結(jié)構(gòu)
C.表面形貌和成分價(jià)鍵
D.內(nèi)部組織和成分價(jià)鍵
A.X射線衍射(XRD)和掃描電鏡(SEM)
B.SEM和透射電鏡(TEM)
C.波譜儀(WDS)和X射線光電子譜儀(XPS)
D.掃描隧道顯微鏡(STM)和SEM
A.拉曼光譜(Raman)、核磁共振(NMR)和傅立葉變換紅外光譜(FTIR)
B.NMR、FTIR和WDS
C.SEM、TEM和STEM(掃描透射電鏡)
D.XRD、FTIR和Raman
A.WDS、能譜儀(EDS)和XRD
B.WDS、EDS和XPS
C.TEM、WDS和XPS
D.XRD、FTIR和Raman
最新試題
光電子產(chǎn)生的機(jī)理是()
X射線光電子能譜譜圖中可能存在的譜峰有()
在3750~2700cm-1的可能產(chǎn)生吸收的基團(tuán)有()
碳元素的主光電子峰是()
物相分析是指利用衍射的方法探測(cè)晶格類型和晶胞常數(shù),確定物質(zhì)的相結(jié)構(gòu),下面哪一項(xiàng)不是主要的物相分析手段?()
材料分析的基本原理是指測(cè)量信號(hào)與材料成分、結(jié)構(gòu)等的特征關(guān)系。
下列哪種因素不是影響紅外光譜譜峰位置的影響因素()
表面與界面成分分析的手段有()
由布拉格方程變形而引入了干涉指數(shù),對(duì)其描述正確的是()。
X射線光譜能給出材料的哪些信息()