判斷題

檢驗(yàn)近表面缺陷時(shí)，最好選用聯(lián)合雙晶探頭。

答案：正確

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射線不受電磁場(chǎng)的影響

答案：錯(cuò)誤

檢波器的相位的選擇應(yīng)該以能夠最有效地檢出對(duì)比試件上的人工缺陷為好。

答案：正確