A.點(diǎn)標(biāo)法B.線分法C.測量面積法D.比較法
A.單位面積上的晶粒個(gè)數(shù)B.物鏡的數(shù)值孔徑C.每平方毫米內(nèi)的晶粒數(shù)D.晶粒度級(jí)別
A.在凝固時(shí)產(chǎn)生的一些微空隙和析集的物質(zhì)B.再結(jié)晶過程中,柱狀晶區(qū)與中心等軸區(qū)交界處的成分偏析和雜質(zhì)物聚集C.結(jié)晶條件不良,冷卻過慢,氣體和夾雜物大量存在D.組織不致密,呈分散在整個(gè)截面上的暗點(diǎn)和空隙