單項(xiàng)選擇題測(cè)頭離導(dǎo)電基體越近，渦流越大，反射阻抗越大，利用這個(gè)原理測(cè)量覆層厚度的是（）

A.電渦流測(cè)量
B.磁感應(yīng)測(cè)量
C.磁吸力測(cè)量
D.庫倫法


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1.單項(xiàng)選擇題（）是利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。

A.磁感應(yīng)測(cè)量方法
B.磁吸力測(cè)量方法
C.電渦流測(cè)量方法
D.庫倫法

2.單項(xiàng)選擇題隔離開關(guān)鍍銀層測(cè)厚采用（）原理。

A.熒光
B.電磁
C.渦流
D.超聲波

3.單項(xiàng)選擇題不需要標(biāo)準(zhǔn)試塊校驗(yàn)、不受現(xiàn)場(chǎng)限制、不需要切割試樣且試樣表面不損壞的光譜分析方法是（）

A.看譜分析
B.手持X射線熒光光譜分析
C.手持激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析
D.光電直讀光譜分析

4.單項(xiàng)選擇題分析（）材料，分析面不宜用砂輪機(jī)或砂紙打磨處理。

A.鋁基
B.鐵基
C.鎳基
D.鈦基

5.單項(xiàng)選擇題以下哪種方法不可用于戶外密閉箱體壁厚測(cè)量（）

A.X射線熒光法
B.超聲波反射法
C.游標(biāo)卡尺法
D.千分尺法