A.直接轉(zhuǎn)換型平板探測(cè)器的敏感度取決于非晶硒層的X線吸收效率
B.非晶硒平板探測(cè)器空間分辨力比非晶硅的大
C.直接、間接轉(zhuǎn)換型平板探測(cè)器的灰度級(jí)都可達(dá)215
D.平板探測(cè)器系統(tǒng)的噪聲主要有兩個(gè)來(lái)源:X線量子噪聲和探測(cè)器電子學(xué)噪聲
E.平板探測(cè)器的空間分辨力由探測(cè)器單元的大小和間距決定
A.電信號(hào)直接圖像成像
B.直圖像化成像
C.間接圖像化成像
D.間接數(shù)字化成像
E.直接數(shù)字化成像