多項選擇題根據(jù)缺陷相對聲壓反射率及其分貝差,可以進行()
A.確定缺陷當量大小
B.計算靈敏度調(diào)節(jié)量
C.孔形換算
D.制作AVG曲線
E.確定缺陷形狀
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1.多項選擇題從規(guī)則反射體聲壓計算公式可知,返回晶片的聲壓大小與入射聲壓和反射體的()有關。
A.表面狀態(tài)
B.形狀
C.缺陷位置
D.缺陷取向
E.尺寸
2.多項選擇題磁粉探傷的靈敏度高低受試件()的影響。
A.表面光潔度
B.缺陷形狀
C.缺陷取向
D.磁化方法
E.磁化范圍
3.多項選擇題射線探傷通過圖像的觀察分析,最終確定物體缺陷的()
A.種類
B.形狀
C.大小
D.分布情況
E.材質
4.單項選擇題接頭處焊補,必須測試透聲情況,對于接頭不透聲,按()處理。
A.重傷
B.輕傷
C.輕傷有發(fā)展
D.須夾固
5.單項選擇題焊補后探傷時間選擇在5天后進行探傷,衰減量()時,20-25天后進行復核,衰減量呈下降趨勢時,證明焊補質量較好,呈上升趨勢時,須夾固處理。
A.不大于6dB
B.不大于8dB
C.不大于10dB
D.不大于14dB
最新試題
當工件內(nèi)應力與波的傳播方向一致時,若應力為壓縮應力,則應力作用會使工件彈性增加,導致聲速減慢。
題型:判斷題
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
題型:判斷題
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側圓柱面波形轉換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。
題型:判斷題
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準反射體聲壓之比。
題型:判斷題
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴重,定量會受到影響。
題型:判斷題
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
題型:判斷題
經(jīng)變形橫波轉換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
題型:判斷題
無論聲波相對于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當大的差異。
題型:判斷題
為了減少側壁的影響,必要時可采用試塊比較法進行定量,以便提高定量精度。
題型:判斷題
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
題型:判斷題