單項(xiàng)選擇題垂直入射時(shí),如果在同一掃查位置上出現(xiàn)兩個(gè)缺陷顯示信號(hào);可能的情況是:()

A.同一個(gè)缺陷的兩次回波
B.根據(jù)儀器性能確定
C.能檢出所有部位的缺陷
D.根據(jù)工藝要求確定


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超聲檢測儀盲區(qū)是指()。

題型:單項(xiàng)選擇題

()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

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超聲檢測對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。

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()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

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調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。

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儀器水平線性影響()。

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移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。

題型:單項(xiàng)選擇題

探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。

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底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。

題型:單項(xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。

題型:單項(xiàng)選擇題