A.均為細(xì)長結(jié)構(gòu)
B.檢測難度一樣
C.往往只有一個(gè)端頭外露
D.絕大部分隱藏在地下
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.立柱是金屬構(gòu)件
B.立柱是空心薄壁結(jié)構(gòu)
C.立柱直徑大小不一
D.立柱長短不一
A.低應(yīng)變反射波法操作簡便、自動(dòng)判別,精度高;只需樁頭露出。
B.聲波透射法精度較高,需樁頭露出且需要預(yù)留檢測孔。
C.孔內(nèi)成像法結(jié)果比較直觀,精度高;需要樁頭露出,并且進(jìn)行鉆孔。
D.取芯法結(jié)果直觀;需樁頭露出、受鉆心質(zhì)量影響、成本較高。
A.2
B.3
C.4
D.5
A.5%,3
B.10%,3
C.3%,10
D.3%,2
A.2%,3
B.3%,1
C.1%,3
D.3%,2
最新試題
一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
對焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
下面給出的射線檢測基本原理中,正確的是()。
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。